Koyo Technos manufactured probe guard for semiconductor wafer inspection.
High-speed multi-inspection has become possible.
The vertical probe VBP-C method enables high-speed multi-testing.
- 企業：コーヨーテクノス
- 価格：Other
Inspection Probe Card(mi) - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり
Inspection Probe Cardの製品一覧
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